Настоящим сообщением продолжается компьютерный анализ нерасшифрованных дифрактограмм на основе базы данных PDF. Из 1-50 томов этой базы выбраны дифракционные данные 597 соединений Ni различного состава.
В таблицах, которые представлены здесь, приводятся экспериментальные и расчетные межплоскостные расстояния, а также разница между ними dD=(Dexp – Dcal). Количество рефлексов, размещенных в картотеке, сокращалось до 12-ти, что вполне достаточно для идентификации кристаллической фазы. Исключение составляют случаи с меньшим числом отражений. Отобранные кристаллические решетки за очень редким исключением (небольших превышений) не только отвечают необходимому условию abs(dD) < (последний знак Dexp), но и современным критериям достоверности.
