Обладнання лабораторії електронно-мікроскопічних досліджень структури опромінених матеріалів
Електростатичний прискорювач із зовнішнім інжектором (ЕСУВІ)
![прискорювач ЕСУВІ прискорювач ЕСУВІ](images/KIPT img/14-10Eqv_1.png)
Параметри опромінення: |
---|
Топр= 60 – 800°С |
D = 0 - 250 сна |
k=7·10-5-7·10-3 зна/с |
0.13 – 1.3 appmHe/с |
0.1 – 1 appmH/с |
Сорт іонів | параметри |
---|---|
Cr | ЕCr= 0.3 - 3 МэВ jCr =1 - 45 мкА/см2 |
Cr+He | D = 0 - 250 сна |
Cr+H | k=7·10-5-7·10-3сна/с |
Cr+He+H | - |
Електронні мікроскопи
![мікроскоп JEM мікроскоп](images/KIPT img/14-10Equ_2.1.jpg)
JEM-100 CX |
JEM-2100 |
![JSM-7100F JSM-7100F](images/KIPT img/14-10Equ_2.2.jpg)
JSM-7100F
Автоемісійний скануючий електронний мікроскоп з системою енергодисперсійного мікроаналізу, зі спектрометром з хвильової дисперсією і детектором назад розсіяних електронів
Обладнання та методики препарування зразків
![JFC-1600 JFC-1600](images/KIPT img/14-10Equ_3.1.jpg)
![TenuPol-50 TenuPol-50](images/KIPT img/14-10Equ_3.2.jpg)
JFC-1600 |
VC-50 |
TenuPol-50 |
ЕМ-09100 IS |
![Ion Slicer photo Ion Slicer photo](images/KIPT img/14-10Equ_3.3.jpg)