Методики лабораторії електронно-мікроскопічних досліджень структури опромінених матеріалів
- Визначення якісного і кількісного хімічного складу зразків у вагових і атомних процентах;
- Отримання інформації про всі типи дефектів кришталевої будови: дислокації, дисклінації, двійники, фази, пори та інші;
- Отримання інформації про структуру, що утворилась при різних видах фазових перетворень і деформації: розмір, морфологія, орієнтація, склад, кришталева будова і інші види дефектів;
- Отримання зображень поверхні з високим розділенням: режим SEI, Topo, Compo;
- Аналіз розподілу елементів вздовж лінії;
- Складання карт розподілу заданих елементів (картування);
- Прискорювач ЕСУВІ із спрямовуючим пристроєм іонів і порожнистим джерелом газових іонів магнетронного типу, який дозволяє опромінювати конструкційні матеріали важкими іонами, а також іонами газу.
