Оборудование лаборатории электронно-микроскопических исследований структуры облученных материалов
Электростатический ускоритель с внешним инжектором (ЭСУВИ)
![ускоритель ЭСУВИ ускоритель ЭСУВИ](images/KIPT img/14-10Eqv_1.png)
Параметры облучения: |
---|
Тобл= 60 – 800°С |
D = 0 - 250 сна |
k=7·10-5-7·10-3 сна/с |
0.13 – 1.3 appmHe/с |
0.1 – 1 appmH/с |
Сорт ионов | параметры |
---|---|
Cr | ЕCr= 0.3 - 3 МэВ jCr =1 - 45 мкА/см2 |
Cr+He | D = 0 - 250 сна |
Cr+H | k=7·10-5-7·10-3сна/с |
Cr+He+H | - |
Электронные микроскопы
![пикроскоп JEM микроскоп](images/KIPT img/14-10Equ_2.1.jpg)
JEM-100 CX |
JEM-2100 |
![пикроскоп JSM микроскоп](images/KIPT img/14-10Equ_2.2.jpg)
JSM-7100F
Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп с системой энергодисперсионного микроанализа, со спектрометром с волновой дисперсией и детектором обратно рассеянных электронов
Оборудование и методики препарирования образцов
![JFC-1600 JFC-1600](images/KIPT img/14-10Equ_3.1.jpg)
![TenuPol-50 TenuPol-50](images/KIPT img/14-10Equ_3.2.jpg)
JFC-1600 |
VC-50 |
TenuPol-50 |
ЕМ-09100 IS |
![Ion Slicer photo Ion Slicer photo](images/KIPT img/14-10Equ_3.3.jpg)