Оборудование лаборатории электронно-микроскопических исследований структуры облученных материалов

ИФТТМТ
Институт физики твёрдого тела, материаловедения и технологий
НАН Украины

Оборудование лаборатории электронно-микроскопических исследований структуры облученных материалов

Электростатический ускоритель с внешним инжектором (ЭСУВИ)

Параметры облучения:
Т_обл= 60 – 800^°С
D = 0 - 250 сна
k=7·10^-5-7·10^-3 сна/с
0.13 – 1.3 appmHe/с
0.1 – 1 appmH/с

Сорт ионов	параметры
Cr	ЕCr= 0.3 - 3 МэВ jCr =1 - 45 мкА/см²
Cr+He	D = 0 - 250 сна
Cr+H	k=7·10^-5-7·10-3сна/с
Cr+He+H	-

Электронные микроскопы

JEM-100 CX
Просвечивающий электронный микроскоп с системой энергодисперсионного микроанализа

JEM-2100
Просвечивающий электронный микроскоп со сканирующей приставкой и с системой энергодисперсионного микроанализа

JSM-7100F
Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп с системой энергодисперсионного микроанализа, со спектрометром с волновой дисперсией и детектором обратно рассеянных электронов