Оборудование

Центра коллективного пользования ННЦ ХФТИ
“Аналитическое материаловедение наноструктурных систем ядерной энергетики”

ЦКП

Цели и Задачи

Оборудование

Публикации

JSM-7001F – автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп с системой энергодисперсионного

			Разрешение		При 30 кВ	1,2 нм
					При 1 кВ	3 нм
			Ускоряющее напряжение		0,5 – 30 кВ
			Диапазон увеличений		×25- ×1 000 000
			Размер образцов		Диаметр до 10 см Высота до 40 мм
На микроскопе JSM-7001F установлены ЭДС и ВДС спектрометры: (1) оба детектора направлены в одну точку; (2) обеспечиваются необходимые величины рабочего расстояния и угла отбора ЭДС: за несколько секунд можно получить полный спектр образца и определить его качественный и количественный химический состав; ВДС: обеспечивает более точный результат, но это относительно медленный последовательный метод анализа
				Качественный и количественный анализ химического состава
				Автоматизация управления электронным зондом и анализ с привязкой к изображению
				Картирование - анализ пространственного распределения элементов
Система анализа фазового состава, структуры и текстуры кристаллических материалов методом дифракции отраженных электронов (EBSD)
		Модульный принцип построения - можно выбирать программные модули, необходимые для решения специальных задач:
		Ø получение и индексирование картин ДОЭ, идентификация фаз по структуре/составу Ø ориентационное картирование, представление и обработка информации в виде карт >анализ текстур методом полюсных фигур Ø анализ текстур с использованием функций распределения ориентации! в пространстве Эйлера Ø моделирование кристаллических структур (входит в состав всех системных пакетов)

ЦКП

Цели и задачи

Оборудование

Публикации