|
ЦКП
Цели и Задачи
Оборудование
Публикации
|
JEM-2100 –
трансмиссионный электронный микроскоп со сканирующей приставкой и с системой энергодисперсионного микроанализа
|
|
Разрешение
|
Просвечивающий режим
|
1,3
нм
|
|
Сканирующий трансмиссионный режим
|
0,2
нм
|
|
Растровый режим
|
1 нм
|
|
Ускоряющее
напряжение
|
200
кВ
|
|
|
Диапазон
увеличений
|
×50-
×1 500 000
|
|
|
Длина дифракционной камеры
|
600-6000 мм
|
|
|
Наклон образца
(Гониометр)
|
X±40°
Y±30°
|
|
|
JEM-2100
со сканирующей приставкой (STEM) и энергодисперсионным спектрометром (EDS) управляется персональным компьютером на
базе операционной системы Windows XP
|
|
|
|
|
|
|
Режимы работы JEM-2100 просвечивающий
(TEM),
сканирующий трансмиссионный (STEM) и энергодисперсионный (EDS)
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|